Intelligent Solutions to Processor Error Rates: AI-Driven Diagnostics and Parallel Architecture Design

Abstract

The study focuses on the high error rates in modern electronic devices due to algorithmic issues, interference, and structural defects. It uses questionnaires, interviews, and data analysis to investigate causes and strategies for mitigating processor failures. Key discoveries include artificial intelligence for error correction, multi-core processing methods, and improved calculations. The report recommends developing accurate testing programs, improving collaboration, improving algorithms, and designing parallel processors.

تركز هذه الدراسة على معدلات الخطأ المرتفعة في الأجهزة الإلكترونية الحديثة، الناتجة عن مشكلات خوارزمية، وتداخل الإشارات، والعيوب الهيكلية. وقد استخدمت الدراسة الاستبيانات والمقابلات وتحليل البيانات للتحقيق في الأسباب المحتملة ووضع استراتيجيات للحد من أعطال المعالجات. ومن أبرز الاكتشافات التي توصلت إليها الدراسة: استخدام الذكاء الاصطناعي لتصحيح الأخطاء، وتطبيق أساليب المعالجة متعددة النوى، وتحسين دقة العمليات الحسابية. ويوصي التقرير بتطوير برامج اختبار دقيقة، وتعزيز التعاون بين الجهات المعنية، وتحسين الخوارزميات، وتصميم معالجات موازية أكثر كفاءة